红外测温时,对于磁场和漏磁引起的过热可依据电压致热型设备的判据进行处理。

来源:网络时间:2024-07-30 21:09:33

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红外测温时,对于磁场和漏磁引起的过热可依据电压致热型设备的判据进行处理。

A、正确

B、错误

正确答案:B

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