与探测面垂直的内部平滑缺陷,最有效的探测方法是:()

来源:网络时间:2023-05-11 15:03:31

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与探测面垂直的内部平滑缺陷,最有效的探测方法是:()

A.单斜探头法

B.单直探头法

C.双斜探头前后串列法

D.分割式双直探头法

正确答案:C

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